T3Ster热阻测试仪是MicReD 研发制造的先进的热测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster系统包含了主机、热电致冷恒温器、热电偶前置放大器、功率放大器等部件。T3Ster基于先进的“JEDEC Static Method”测试方法（JESD51-1），通过改变电子器件的的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性。