发明人:毛淇; 刘竞博; 吕赐兴; 朱云龙
本申请属于图像处理技术领域,公开了一种集成电路图像增强方法、装置、电子设备及存储介质,通过获取集成电路的待处理的太赫兹图像;利用多尺度高斯函数对所述待处理的太赫兹图像进行去模糊处理,得到多个第一图像;对所述多个第一图像进行平均处理得到平均图像;利用LatLRR算法对所述平均图像进行多尺度分解得到多个细节图像;利用Bregman迭代算法对所述平均图像进行增强处理,得到第二图像;对所述多个细节图像和所述第二图像进行平均处理得到增强图像;从而可得到细节特征清晰的太赫兹图像,使图像的隐藏特征显现,与现有技术相比,得到的图像更有利于准确地判断集成电路的电介质层断裂、裂纹和分层等缺陷情况。
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