性能指标：热场发射电子枪，发射束流2.5nA(束斑尺寸为1nmφ时)，最大束流100nA；点分辨率0.23nm@200KV，线分辨率0.10nm@200KV，信息分辨率0.12nm@200KV；加速电压20-200kV；束斑尺寸0.5 - 20nm；双倾杆最大倾斜角X：±35°，Y：±30°；样品可自动更换，同时支持手动换样模式；扫描透射分辨率：0.16nm（200kv）；二次电子分辨率： 1.0nm（200KV）；EDS:能量分辨率133eV,元素分析范围4B至92U,EDS立体角1.7sr.

主要应用：微观形貌、电子衍射、高分辨像、元素分析、原位力学测试，原位加热

共享要求：必须填写送样单

仪器说明：JEM-F200电镜是通用型微观结构分析的重要仪器之一；有较高的空间分辨率和分析能力，同时可满足多种使用途径，易用性强;

收费标准

亲自上机测试费用标准：1200元/小时 HAADF：600元/小时EDS能谱： 300元/小时 原位力学测试（布鲁克PI95）：1000元/小时 原位加热（布鲁克PI95）：1500元/小时 详情见测试中心收费明细

委托测试费用标准：同上

送样测试费用标准：同上