性能指标：粒径测量系统： 1．测量范围：0.3 nm-10 µm。 2．测量理论：采用最新动态光背散射技术； 3．激光光源：5 mW波长780 nm半导体固定位置激光器； 4．激光光路：采用先进的“Y”型光纤光路； 5．检测器：高灵敏硅光电感应二极管； 6.检测角度：180º； 7.分析时间：30-120 s； 8.重复性：＜1%； 9．样品浓度范围：0.1 ppm-40%(Vol)。 Zeta电位测量系统： 1.采用先进的膜电极设计，微电场电泳测量，与纳米粒度测量一体化 设计，无需变换测量环境（无需比色皿或专门的电极池），对样品直 接测量，保证分析结果的可靠性； 2.Zeta电位测量范围：-200 mV-+200 mV； 3.浓度范围：0.1 ppm-40%（Wt）； 温控范围：0-90℃，控温精度0.1℃，可以进行程序升温或降温； 分子量测量范围：300-2*107 Da。

主要应用：用于测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位。

共享要求：易腐蚀及油性物质提前说明

仪器说明：无

收费标准

亲自上机测试费用标准：按时间

委托测试费用标准：按时间

送样测试费用标准：按时间