性能指标：电子光学系统  二次电子像分辨率：2.5nm(30kV, 1×10-11 A, 工作距离11mm)  束斑尺寸：20nm(10kV, 1×10-8 A, 工作距离11mm) 50nm (10kV, 1×10-7 A, 工作距离11mm)  加速电压：1~30kV（步长：0.1kV）  空间分辨率：优于0.1μm  图像放大倍数：×40～×300,000，连续可调 波谱系统  分析元素范围：5B - 92U  分析精度：好于1%(主元素, 含量＞5%)和5%(次要元素, 含量～1%)  谱仪的稳定性 —记数率的重复性(给定波长位置)：好于0.5% —峰位置重复性(同一分光晶体)：好于0.5% —峰位置重复性(交换分光晶体后)：好于2%  谱仪类型及晶体组成 —常规元素大罗兰圆谱仪1道，适合常规元素的140mm高分辨率分析 —常规元素小罗兰圆谱仪2道，适合常规元素的100mm高灵敏度分析 —适合超轻元素B, C, N, O及Na, Mg, Al, Si分析的140mm大晶体高分辨谱仪1道 —适合超轻元素N, O, F及Na, Mg, Al, Si分析的140mm高分辨谱仪1道 能谱仪  电制冷型，探测面积：30mm2  元素范围: 4Be-92U  能谱分辩率: Mn Kα优于129eV

主要应用：电子探针显微分析仪（EPMA）主要用于化学组分、元素定性和定量、化学价态等的分析及高分辨的二次电子像、背散射电子像观察。在钢、汽车、电子零件和电池材料等广泛工业领域中，EPMA用作研发和质量控制工具。此外，在学术领域，EPMA应用于地球与行星科学和材料科学，不仅涵盖矿物能源研究，而且涉及新型材料研究，从而为各种尖端研究做出贡献。

共享要求：要确定样品的导电性，提供样品元素种类和含量范围，以便确定测试方案。

仪器说明：JXA-iHP200F是更先进的一体化集成肖特基场发射电子探针显微分析仪，能更加有效地进行观察、分析和操作，在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。JXA-iHP200F从观察（光学和SEM图像）到分析，均支持与波长色散X射线光谱仪（WDS）、能量色散X射线光谱仪（EDS）及其他技术的无缝集成。利用WDS的高分辨率和EDS的高速度，可以很快将材料中的成份进行精准分析，

收费标准

亲自上机测试费用标准：800元/小时（该标准针对经过培训的季华实验室内部人员，具体收费参考附件）

委托测试费用标准：1000元/小时（具体收费参考附件）

送样测试费用标准：1000元/小时（具体收费参考附件）