【光电热性能检测】光谱功率分布｜峰值波长｜色纯度｜平均光强｜亮度

LED芯片发光均匀度测试

技术背景

当前，芯片厂在LED芯片电极图案设计过程中，仅仅是针对芯片进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数，并不能精确地描述芯片的光分布情况，这样容易导致芯片的色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题。而由于缺乏专业的测试设备和测试经验，LED芯片厂对芯片发光不均匀的现象束手无策，没有直观的数据支持，无法从根本上改进芯片品质。

针对这些需求，本中心推出了LED芯片发光均匀度测试的业务，方便客户了解芯片性能，认清芯片电极设计的方向。通过LED芯片发光均匀度测试，可以从特定角度拍摄芯片影像，建立一个芯片亮度输出的发光图像，接收被测芯片的光信号，提供芯片发光效果图和光强数据。其中，芯片发光效果图能直观地体现出芯片发光的均匀程度，判断电极图案设计的优劣，明确改进方向，优化电极图案。

案例分享

某芯片厂需对其产品的电极图案进行评估。通过LED芯片发光均匀度测试，得到发光效果如下图所示，图中芯片下面两个焊点连接负极，上面两个焊点连接正极，最右边为亮度刻度。

从图中可明显看出芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率，发热量大。

对此，建议可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。

光电热性能检测主要业务

（1）光电性能参数，测量光通量、光谱功率分布、辐射通量、色品坐标、相关色温、显色指数、峰值波长、主波长、色纯度、半峰带宽、电压、电流、平均光强、空间光色电分布数据等光色电参数。

（2）近场光学分布，测量光源任意方位表面任意点或区域内的亮度、色度、光谱等信息；测量样品在特定温度下含颜色信息的光源近场文件。

（3）动态热阻测试，结温，分层热阻、热容、瞬态温度响应曲线。

（4）远场光源分布，测量光通量、光谱功率分布、辐射通量、色品坐标、相关色温、显色指数、峰值波长、主波长、色纯度、半峰带宽、电压、电流、平均光强、空间光色电分布数据等光色电参数。

（5）灯具配光曲线测试，测灯具配光、光强分布、等光谱图、等照度图、光通量、空间颜色分布、波长、色坐标、色温、显色指数、发光角。

（6）灯具平面照度色度分布、热分布测量、光生物安全测试、透明材料透过率及漫射材料反射率、色差测试、面发光屏亮度测试、静电测试、启动时间、上升时间、工作频率、闪烁频率等服务。

更多详情，敬请咨询

杨先生
电 话： +86-757-86081851/18923133157
传 真： +86-757-86081835
电 邮： yanggm@fsldctr.org
地 址： 佛山市南海区桂城深海路17号瀚天科技城A区7号楼304单元

佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心是佛山市南海区政府与香港科技大学共同组建的工程中心，为一依托于南海区科技局的事业单位。本中心是CNAS认可单位，具有第三方公正的CMA资质，专门为电子电器行业，尤其是发光二极管（LED）与平板显示（FPD）行业提供各种封装材料测试、光学、电学和热学性能测试、器件和产品层面的失效分析、全面评估产品性能的各种可靠性测试等服务。本中心设有6个高端实验室，分别为光电热性能检测实验室、失效分析实验室、可靠性试验实验室、材料性能检测实验室、封装中试制程实验室、表面贴装中试制程实验室，配备了高精度积分球、光源近场测角光度仪、ANSYS和ICEPAK热场仿真软件、T3ster瞬态热阻测试仪等高精仪器设备。

了解更多详情，请登录本中心官方网站：www.hkust.fsldctr.org，也可扫描下方二维码关注官方微信公众号。