发明人：高超峰; 饶衡; 张士亨; 马治博; 汤华平; 熊孝经; 毕云杰

本申请公开了一种工艺开发方法、装置、设备及可读存储介质，涉及增材制造技术领域。所述工艺开发方法包括以下步骤：获取目标材料的各待开发工艺参数的第一参数基准值；基于所述第一参数基准值，通过正交试验，获得各所述待开发工艺参数的主次顺序和第一初选参数值；将所述第一初选参数值作为第二参数基准值，基于所述主次顺序和第二参数基准值，生成对应的参数多赫勒矩阵；按照所述参数多赫勒矩阵，增材制造成形所述目标材料的第一试验样品后，检测所述第一试验样品的目标性能的第一性能值；根据所述第一性能值，确定各所述待开发工艺参数的最优参数值。本申请提高了增材制造对于不同材料的工艺开发效率。