发明人：王功伟; 陈建春; 胡琅; 尤晶

本申请属于图像识别技术领域，公开了一种电路板表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，获取待检测的电路板图像；把所述电路板图像输入预先训练好的CNN‑Transformer融合模型，得到所述CNN‑Transformer融合模型输出的缺陷识别结果；由于CNN‑Transformer融合模型兼顾了模型性能和推理速度，且不增加额外的时间复杂度和空间复杂度，从而识别结果准确率较高且检测效率较高。