性能指标：冷场发射电子枪,束流@束斑尺寸：1nA@0.19nm；点分辨率:0.23nm,信息分辨率：0.11nm，扫描透射分辨率：0.078nm（200 kV）；加速电压80-200kV；能量分辨率：0.33eV；标准样品台倾斜角度：X：±35º；Y：±30º；底插式CMOS成像系统，像素尺寸：14微米；配有高角环形暗场探头（HAADF）和明场/暗场探头（BF/DF）以及ABF探测器和背散射探测BEI；电制冷超级能谱仪EDS（SDD）：双探头探测器总面积200mm2，单个面积100mm2，固体角1.7sr，MnK分辨率133eV，分辨元素范围B5-U92；EELS:系统能量分辨率0.3 eV,能量视场范围≥ 2000eV。

主要应用：微观形貌、电子衍射、高分辨像、元素分析,原位力学测试，原位加热

共享要求：请事先与管理老师沟通

仪器说明：JEM-ARM200F标配冷场发射电子枪和全新的高阶球差校正器（本机为单校正器型)，能实现原子级分辨率的观察与分析，是通用型微观结构分析的高端仪器之一，配有PI-95原位力学杆。

收费标准

亲自上机测试费用标准：3000元/小时 HAADF高分辨：1600元/小时 EDS能谱： 400元/小时 EELS：1000/小时 原位力学测试（布鲁克PI95）：3000元/小时 原位加热（布鲁克PI95）：4000元/小时 详情见测试中心收费明细

委托测试费用标准：同上

送样测试费用标准：同上