引进MicReD 研发制造的热阻测试仪T3Ster,搭建了国内领先的LED热学性能检测系统。该系统可对LED封装器件、模块的热学性能进行精确测量。
依据标准:JESD51-1
应用领域:1、在产品设计和研发阶段:预测芯片温度;验证封装的热流路径;为结构设计提供热数据。2、在产品制造阶段:发现隐藏的产品缺陷;生产线测试。3、在质量验证阶段:以无损方式,确定结构缺陷。
检测项目:热阻;额定功率结温;热阻结构函数;热容结构函数。
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