仪器所在单位内部编码：

0200781

规格型号：

ZEM-3(M8)

主要技术指标：

1. 温度范围：RT-1000℃，氦气气氛，控温精度 ≤±0.5℃；
2. Seebeck系数测量范围：0.5μV/K～25V/K；
3. 电导率测量范围：0～2.5K Ohm；
4. Seebeck系数测量精度：< ±7%；测量重复性：< ±7%；
5. 电导率测量精度：< ±10%；测量重复性：< ±10%；
6. 测量方法：seebeck系数：静态直流电； 电阻率：四端法；
7. 上下电极间温度：在0～50℃之间，自由设定

主要功能：

日本Advance Riko公司推出的塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数（seebeck）和电阻都可以用一种仪器来测量。该系统可用于对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。