发明人：易京亚; 宋梦洒; 魏晟; 温志庆

本申请属于类镜面缺陷检测的技术领域，公开了一种类镜面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测类镜面物体表面的变形条纹图，通过相移法，计算变形条纹图对应的横坐标方向包裹相位和纵坐标方向包裹相位，根据横坐标方向包裹相位和纵坐标方向包裹相位，结合预设的计算窗口因子，计算得到相位伪相关质量差值图，利用图像分析技术，检测相位伪相关质量差值图，得到待测类镜面物体表面的缺陷结果数据，通过检测由类镜面物体表面的包裹相位数据计算得到相位伪相关质量差值图，对类镜面的缺陷进行检测，提高了缺陷检测的效率。