发明人：汪伟; 毕海; 何兆铭; 杨万里; 柯链宝

本申请公开了一种工件缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述工件缺陷检测方法包括：获取待测工件的偏振光强信息，依据所述偏振光强信息，确定待测工件对应的总光强信息、对应的偏振度信息以及对应的偏振角信息；对所述总光强信息、所述偏振度信息以及所述偏振角信息进行加权聚合，得到工件偏振特征图像；对所述工件偏振特征图像进行工件边缘轮廓检测，得到边缘轮廓特征信息；依据所述边缘轮廓特征信息，对所述待测工件进行工件缺陷检测，得到工件缺陷检测结果。本申请解决了工件缺陷检测准确度低的技术问题。