“闪存芯片测试及智能分析系统平台”是基于广东工业大学与佛山广工大研究院共同承担项目“面向3D存储器件与系统的信号处理与编码研发平台建设”的项目成果。

  闪存芯片测试及智能分析系统平台的设计与实现旨在应对 NAND 闪存技术复杂性日益增加的背景，提供一个全面、高效且灵活的测试环境。该平台不仅要能够精确评估闪存芯片的性能和可靠性，还应具有多功能扩展能力，以支持不同的测试需求和应用场景。该平台不但拥有擦写读等基本功能，还拥有阈值电压扫描、寿命预测等高阶功能，适用于各大闪存芯片厂商以及高校实验室。