韩超_专家库_南海区科技成果转化服务云平台

您现在的位置：首页 >

专家库 >

详情页

韩超副研究员

在职单位：广东工业大学擅长领域：数字集成电路设计与可测试性设计、编程语言、EDA工具

博士电子工程美国奥本大学 2011.08-2015.06 硕士电子工程美国奥本大学 2008.09-2001.06 本科电子工程华北电力大学（北京） 2004.09-2008.06

在线咨询

754

教育背景

无

工作经历

无

参与项目

Transistor Stuck Open Fault诊断 § 使用现有ATPG Tool（Mentor Fastscan）针对TSOF（Transistor Stuck Open Fault）进行diagnosis fault仿真以及diagnostic测试向量生成复杂门（complex gate）电路的Cross Wire Open Fault检测 § 甄别出极大可能无法被传统Transition Delay Fault和Transistor Stuck Open Fault模型覆盖的复杂门逻辑中的cross wire open faults § 提出了一套使用现有ATPG Tool针对此类fault检测的方法 LOS（launch on Shift）模式下的scan enable时序测试 § 提出了一套验证LOS模式下高速scan enable信号时序的方法以提高TSOF的检测覆盖率检测Hazard Activated CMOS Open Defects § 提出了针对复杂门（Complex gate）逻辑的TSOF（transistor stuck open faults）测试向量生成方法 § 提出了针对无法被传统transition delay fault覆盖的TSOF DFT检测方法针对Delay testing的高效覆盖率Partial Enhanced Scan设计 § 提出了一套高效的enhanced scan flip-flops选择方法（10-20% flop插入enhanced scan设计）以提高transition delay fault的检测覆盖率

主要荣誉

无

专家认证

推荐专家